Bachelorstudium in Wirtschaftsingenieurwesen Elektrotechnik und Informationstechnik

Education Electron Microscopy

 

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Proseminars

None at the moment.

Seminars

None in at the moment.

 

Practical

Fortgeschrittenenpraktikum (Versuch FP16)

 

Versuchsanleitung als PDF

 

Die hier untersuchte Probe besteht aus Galliumarsenid (GaAs), in das eine nur wenige Nanometer dicke Schicht aus Indiumgalliumarsenid (InxGa1-xAs) eingebracht wurde. Der Index x bzw. 1-x bezeichnet dabei die Konzentration von Indium bzw Gallium in dieser Schicht. Strukturen dieser Art finden sich z.B. in Laserdioden und Solarzellen. Sie werden im Laufe dieses Versuchs neben essentiellen TEM Grundlagen zwei Methoden kennenlernen und durchführen, die zur Bestimmung des Indiumgehaltes mittels TEM aktuell verwendet werden. Dazu arbeiten Sie selbständig am Mikroskop Phillips CM20 und unter Anleitung am Titan 80/300.

 

Höhere Festkörperphysik

 

Versuchsanleitung als PDF

 

In diesem Versuch erhalten Sie vom Betreuer eine Probe, bei der Sie zunächst mittels EDX Spektroskopie herausfinden sollen, welche Elemente enthalten sind. Die EDX Spektren sollen Sie dann quantifizieren, um die Stöchiometrie der Probe herauszufinden. Im abschließenden Teil des Versuchs sollen sie dann mittels energiegefilterter Transmissionselektronenmikroskopie (EFTEM) überprüfen, ob die Elemente homogen verteilt sind. Dazu benötigen Sie zunächst Elektronenenergieverlustspektren, um die energetische Verteilung der Elektronen in den entsprechenden Energiebereichen herauszubekommen und damit die Auswertung von EFTEM-Bildern zu verstehen.

 

Methoden der Festkörperphysik & MMCP (Master of Materials Science)

 

Versuchsanleitung als PDF

 

In diesem Versuch sollen Sie die grundlegende Funktionsweise eines Transmissionselektronenmikroskopes (TEM) kennenlernen. Dabei beschränken wir uns in erster Linie auf die Möglichkeiten zur Strukturabbildung, während die Anwendung des TEM zur chemischen Analyse von Nanostrukturen einem weiterführenden Praktikum vorbehalten bleibt. Dabei werden Sie erfahren, dass sich die Entstehung von Kontrast in der Abbildung wesentlich von dem unterscheidet, was Sie beispielsweise von der Abbildung mit einem Diaprojektor oder von der Lichtmikroskopie her kennen. Im TEM ist der Kontrast hauptsächlich auf Beugung von Elektronenwellen zurückzuführen. Deshalb spielt auch das Beugungsbild, das wir in der hinteren Brennebene der Objektivlinse finden, eine zentrale Rolle. Und darum ist es auch wichtig, im TEM sowohl die reelle Abbildung als auch das Beugungsbild am Leuchtschirm beobachten zu können. In diesem Kontext soll Sie dieser Versuch in die Hell- und Dunkelfeldabbildung, die Abbildung von Beugungsbildern und die Feinbereichsbeugung einführen.